遇到一个没有遇到的问题，大家讨论一下

huangweida · 发表于 2016-7-20 15:46:57

本帖最后由 huangweida 于 2016-7-20 15:57 编辑

用STM32做了一个产品，产品是出口国外的。今天产品去测试了，在公司一直好好的，单片机程序运行正常，掉电也能够保存数据（保存在STM32内部flash）。但是到了测试现场，电源用的是大型的交流转换器，输出220V 50hz，就出现问题了。问题是：单片机掉电后数据丢失了，其他的一切正常，单片机运行，就是一旦掉电，保存在STM32内部flash的数据就丢了。保存数据的方式是:内部检测到电压低于2.9V，单片机进去低压中断，将要保存的数据写到STM32的内部flash里。
注意的是：用我们正常的交流电源（220V，50hz），断电后是可以保存数据的。但是换成了交流转换器就出现不能保存。
有哪位遇到过这个问题的，指导一下。谢谢！
我那边的硬件工程师说，是电源干扰的问题

huangweida · 发表于 2016-7-20 15:54:37

顶一下......

huangweida · 发表于 2016-7-20 15:56:51

本帖最后由 huangweida 于 2016-7-20 16:25 编辑

在正常的220V，50hz的情况下供电，是正常保存数据。只有在交流转换器输出的220V，50hz下供电就无法保存了

Mr.Guo · 发表于 2016-7-21 09:25:41

个人觉得也是出在电源问题上。。。。谁能保证交流转换器转换后的电源和正常测试的一样

huangweida · 发表于 2016-7-21 12:41:26

Mr.Guo 发表于 2016-7-21 09:25
个人觉得也是出在电源问题上。。。。谁能保证交流转换器转换后的电源和正常测试的一样

这个是，还没有找到具体原因

loyalboy1111 · 发表于 2016-7-21 13:12:36

顶一下。。。。。。。。。。。。。。。。。。

l30439129 · 发表于 2016-7-25 14:53:11

首先要看你再公司和在现场的掉电测试是怎么测试的，有什么区别？
另外这种应用本身就隐患很大，电容老化、温度变化等因素使掉电后储能无法满足写flash时间要求时很容易出现数据无法保存的问题。
建议采用STM32的备份区存储数据，要加电池。
实在是要用这种方式，建议3.3V电源输出端加二极管隔离，3.3V储能电容选温度特性好点的，容量加大。

huangweida · 发表于 2016-7-26 12:38:56

l30439129 发表于 2016-7-25 14:53
首先要看你再公司和在现场的掉电测试是怎么测试的，有什么区别？
另外这种应用本身就隐患很大，电容老化、 ...

硬件不允许改动啊，还有就是，回到公司，是正常的

huangweida · 发表于 2016-7-29 11:48:12

l30439129 发表于 2016-7-25 14:53
首先要看你再公司和在现场的掉电测试是怎么测试的，有什么区别？
另外这种应用本身就隐患很大，电容老化、 ...

是备份数据，但是没有加电池，直接接到电源去了

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