[求助]项目涉及STM32读写nor flash，求大佬评估难度

garyfisher

LZ搞元器件可靠性的，现在有个项目，需要大批量的测试nor flash，用ATE测试很浪费时间，所以想搭一个批量测试平台，一开始打算拿FPGA搞的，后来觉得STM32足矣。

测试平台主要就是测试芯片的存储空间，也就是读写，写一些测试图形比如全0全1棋盘之类的，然后读一遍，符合预期即可，还有就是片擦除和块擦除指令。

目前的想法就是准备很多个工位，把每个工位的存储器的数据线和地址线以及控制线串到一起（同一个引脚串到一起）接到STM32的IO上，每块存储器的片选单独引出来分配给不同的IO，然后通过片选选择芯片，stm32给电平提供指令、读数据。
不同的flash可能测试程序会不一样，可能需要一块存储器存不同的测试程序，然后需要一个液晶屏用于选择测试程序、查看测试结果。

目前想法是这样，我自己的话上学的时候玩过51，现在都还给老师了。。。。C语言和数字电路啥的没问题，单片机那部分得去捡一下
请大佬评估一下项目的可行性和难度