FLASH例程测试失败原因查找

沈根健 · 发表于 2021-3-11 11:09:29

本帖最后由沈根健于 2021-3-11 12:38 编辑

各位火友
你们好！

最近本人学习STM32F429的编程，发现官网下载的FLASH例程《24-SPI—读写串行FLASH（W25Q128）》中有错误，于此分享给大家。希望有不足之处多多指点。
当我们把该程序下载到ARM中，发现在串口1打印出来的信息中提示“测试失败”。如下：
阿里旺旺图片20210311105920.jpg

后来在代码中发现，擦除扇区函数“void SPI_FLASH_SectorErase(uint32_t SectorAddr)”中，地址出现了4个字节，但是FLASH的Datasheet只需要3个字节就够了。所以只要把下面图片标红的代码去掉，测试就成功了。如果大家也需要同样的问题，可以这样尝试一下。
野火论坛202103111108548047..png

非常感谢大家的捧场

WishWish · 发表于 2021-3-11 17:36:36

谢谢分享

ailunwowod · 发表于 2021-4-24 13:42:10

感谢分享，非常有用

LF_laffy · 发表于 2021-10-28 09:10:11

哇塞。知识的神圣在召唤着我前进

账号		自动登录	找回密码
密码			注册

FLASH例程测试失败原因查找

主题推荐